Nano ölçekli ikincil iyon kütle spektrometrisi

Vikipedi, özgür ansiklopedi

Nano ölçekli ikincil iyon kütle spektrometrisi (Nanoscale secondary ion mass spectrometry-nanoSIMS), bir sektör kütle spektrometresi kullanarak bir materyalin temel ve izotopik bileşiminin nano ölçekli çözünürlük ölçümlerini toplamak için kullanılan analitik bir tekniktir. Nano ölçekli ikincil iyon kütle spektrometresi, ikincil iyon kütle spektrometrisine dayanmaktadır.[1]

NanoSims50 cihazının basitleştirilmiş diyagramı.

NanoSIMS yalnızca kullanılan tekniği değil, aynı zamanda bu yöntem için özelleşmiş kütle spektrometresini de ifade eder. Enstrümanın özgün tasarımı, Fransa'daki Paris Sud Üniversitesi'nden Georges Slodzian tarafından tasarlandı.[2] Şu anda dünyada 40'tan fazla NanoSIMS cihazı bulunmaktadır.[3]

Kaynakça[değiştir | kaynağı değiştir]

  1. ^ Herrmann (2007). "Nano-scale secondary ion mass spectrometry — A new analytical tool in biogeochemistry and soil ecology: A review article". Soil Biology and Biochemistry. 39 (8): 1835-1850. doi:10.1016/j.soilbio.2007.03.011. ISSN 0038-0717. 
  2. ^ "CAMECA NanoSIMS: High Resolution Ion Microprobe for Ultra Fine Feature Analysis". www.cameca.com. 4 Mart 2016 tarihinde kaynağından arşivlendi. Erişim tarihi: 20 Nisan 2016. 
  3. ^ Nuñez, J., Renslow, R., Cliff, J. B., & Anderton, C. R. (2018). NanoSIMS for biological applications: Current practices and analyses. Biointerphases, 13(3), 03B301. https://doi.org/10.1116/1.4993628