Taramalı elektron mikroskobu: Revizyonlar arasındaki fark
| [kontrol edilmiş revizyon] | [kontrol edilmiş revizyon] |
Değişiklik özeti yok |
|||
| 1. satır: | 1. satır: | ||
{{Karıştırma|Taramalı tünelleme mikroskobu}} |
|||
[[Dosya:Ant_SEM.jpg |200px|thumb| Bir karınca kafasının taramalı elektron mikroskobuyla alınmış görüntüsü.]] |
[[Dosya:Ant_SEM.jpg |200px|thumb| Bir karınca kafasının taramalı elektron mikroskobuyla alınmış görüntüsü.]] |
||
| 5. satır: | 6. satır: | ||
== Çalışma Prensibi == |
== Çalışma Prensibi == |
||
[[Dosya:SEM_chamber1.JPG |200px|thumb| Taramalı Elektron Mikroskobunun vakum odasının görüntüsü.]] |
[[Dosya:SEM_chamber1.JPG |200px|thumb| Taramalı Elektron Mikroskobunun vakum odasının görüntüsü.]] |
||
Yüksek enerjili demet elektronları numune atomlarının dış yörünge elektronları ile elastik olmayan girişimi sonucunda düşük enerjili [[Auger etkisi|Auger elektronları]] oluşur. Bu elektronlar numune yüzeyi hakkında bilgi taşır ve [[Auger etkisi|Auger Spektroskopisinin]] çalışma prensibini oluşturur. Yine yörünge elektronları ile olan girişimler sonucunda yörüngelerinden atılan veya enerjisi azalan demet elektronları numune yüzeyine doğru hareket ederek yüzeyde toplanırlar. Bu elektronlar ikincil elektron (seconder electrons) olarak tanımlanır. İkincil elektronlar numune odasında bulunan sintilatörde toplanarak ikincil elektron görüntüsü sinyaline çevrilir. İkincil elektronlar numune yüzeyinin 10 nm veya daha düşük derinlikten geldiği için numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsünün elde edilmesinde kullanılır |
Yüksek enerjili demet elektronları numune atomlarının dış yörünge elektronları ile elastik olmayan girişimi sonucunda düşük enerjili [[Auger etkisi|Auger elektronları]] oluşur. Bu elektronlar numune yüzeyi hakkında bilgi taşır ve [[Auger etkisi|Auger Spektroskopisinin]] çalışma prensibini oluşturur. Yine yörünge elektronları ile olan girişimler sonucunda yörüngelerinden atılan veya enerjisi azalan demet elektronları numune yüzeyine doğru hareket ederek yüzeyde toplanırlar. Bu elektronlar ikincil elektron (seconder electrons) olarak tanımlanır. İkincil elektronlar numune odasında bulunan sintilatörde toplanarak ikincil elektron görüntüsü sinyaline çevrilir. İkincil elektronlar numune yüzeyinin 10 nm veya daha düşük derinlikten geldiği için numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsünün elde edilmesinde kullanılır |
||
== Görüntü Almadaki Değişkenler == |
== Görüntü Almadaki Değişkenler == |
||
Sayfanın 19.03, 11 Haziran 2014 tarihindeki hâli
Taramalı Elektron Mikroskobu veya SEM (Scanning Electron Microscope), çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlarla yüzeyin taranması prensibiyle çalışır. Manfred von Ardenne öncülüğünde 1930'lı yıllarda geliştirilmiştir. En sık kullanıldığı biçimiyle, yüzeyden yayılan ikincil (secondary) elektronlarla yapılan ölçüm, özellikle yüzeyin engebeli (topografik) yapısıyla ilişkili bir görüntü oluşturur.
Çalışma Prensibi
Yüksek enerjili demet elektronları numune atomlarının dış yörünge elektronları ile elastik olmayan girişimi sonucunda düşük enerjili Auger elektronları oluşur. Bu elektronlar numune yüzeyi hakkında bilgi taşır ve Auger Spektroskopisinin çalışma prensibini oluşturur. Yine yörünge elektronları ile olan girişimler sonucunda yörüngelerinden atılan veya enerjisi azalan demet elektronları numune yüzeyine doğru hareket ederek yüzeyde toplanırlar. Bu elektronlar ikincil elektron (seconder electrons) olarak tanımlanır. İkincil elektronlar numune odasında bulunan sintilatörde toplanarak ikincil elektron görüntüsü sinyaline çevrilir. İkincil elektronlar numune yüzeyinin 10 nm veya daha düşük derinlikten geldiği için numunenin yüksek çözünürlüğe sahip topografik görüntüsünün elde edilmesinde kullanılır
Görüntü Almadaki Değişkenler
- Uygulanan Voltaj ( keV )
- Çalışma Aralığı (mm )
- Objektif Açıklığı ( µm )
Dış bağlantılar
- [1] SEM ile ilgili bilgiler (ingilizce).