Taramalı elektron mikroskobu: Revizyonlar arasındaki fark
| [kontrol edilmiş revizyon] | [kontrol edilmiş revizyon] |
İçerik silindi İçerik eklendi
k r2.5.1) (Bot: Ekleniyor: et:Skaneeriv elektronmikroskoop |
Luckas-bot (mesaj | katkılar) k r2.7.1) (Bot: Ekleniyor: lb:Rasterelektronemikroskop |
||
| 23. satır: | 23. satır: | ||
[[it:Microscopio elettronico a scansione]] |
[[it:Microscopio elettronico a scansione]] |
||
[[ja:走査型電子顕微鏡]] |
[[ja:走査型電子顕微鏡]] |
||
[[lb:Rasterelektronemikroskop]] |
|||
[[ms:Mikroskop elektron pengimbas]] |
[[ms:Mikroskop elektron pengimbas]] |
||
[[nl:Rasterelektronenmicroscoop]] |
[[nl:Rasterelektronenmicroscoop]] |
||
Sayfanın 09.13, 27 Nisan 2012 tarihindeki hâli
Taramalı Elektron Mikroskobu veya SEM (Scanning Electron Microscope), çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlarla yüzeyin taranması prensibiyle çalışır. Manfred von Ardenne öncülüğünde 1930'lı yıllarda geliştirilmiştir. En sık kullanıldığı biçimiyle, yüzeyden yayılan ikincil (secondary) elektronlarla yapılan ölçüm, özellikle yüzeyin engebeli (topografik) yapısıyla ilişkili bir görüntü oluşturur.
Dış bağlantılar
- [1] SEM ile ilgili bilgiler (ingilizce).