Taramalı elektron mikroskobu: Revizyonlar arasındaki fark
| [kontrol edilmemiş revizyon] | [kontrol edilmemiş revizyon] |
İçerik silindi İçerik eklendi
k r2.6.3) (Bot değişikliği Ekleniyor: ta:அலகிடு எதிர்மின்னி நுண்ணோக்கி |
Luckas-bot (mesaj | katkılar) k r2.7.1) (Bot değişikliği Ekleniyor: ro:Microscopul electronic cu scanare |
||
| 26. satır: | 26. satır: | ||
[[pl:Elektronowy mikroskop skaningowy]] |
[[pl:Elektronowy mikroskop skaningowy]] |
||
[[pt:Microscópio eletrônico de varredura]] |
[[pt:Microscópio eletrônico de varredura]] |
||
[[ro:Microscopul electronic cu scanare]] |
|||
[[ru:Растровый электронный микроскоп]] |
[[ru:Растровый электронный микроскоп]] |
||
[[simple:Scanning electron microscope]] |
[[simple:Scanning electron microscope]] |
||
Sayfanın 23.03, 24 Mart 2011 tarihindeki hâli
Taramalı Elektron Mikroskobu veya SEM (Scanning Electron Microscope), çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlarla yüzeyin taranması prensibiyle çalışır. Manfred von Ardenne öncülüğünde 1930'lı yıllarda geliştirilmiştir. En sık kullanıldığı biçimiyle, yüzeyden yayılan ikincil (secondary) elektronlarla yapılan ölçüm, özellikle yüzeyin engebeli (topografik) yapısıyla ilişkili bir görüntü oluşturur.
Dış Bağlantılar
- [1] SEM ile ilgili bilgiler (ingilizce).