Taramalı elektron mikroskobu: Revizyonlar arasındaki fark
| [kontrol edilmemiş revizyon] | [kontrol edilmemiş revizyon] |
İçerik silindi İçerik eklendi
k Bot değişikliği Ekleniyor: ar, bg, ca, en, pt Değiştiriliyor: ru |
k Bot değişikliği Ekleniyor: simple:Scanning electron microscope |
||
| 24. satır: | 24. satır: | ||
[[pt:Microscópio eletrônico de varredura]] |
[[pt:Microscópio eletrônico de varredura]] |
||
[[ru:Растровый электронный микроскоп]] |
[[ru:Растровый электронный микроскоп]] |
||
[[simple:Scanning electron microscope]] |
|||
[[sl:Vrstični elektronski mikroskop]] |
[[sl:Vrstični elektronski mikroskop]] |
||
[[uk:Скануючий електронний мікроскоп]] |
[[uk:Скануючий електронний мікроскоп]] |
||
Sayfanın 19.17, 21 Nisan 2010 tarihindeki hâli
Taramalı Elektron Mikroskobu veya SEM (Scanning Electron Microscope), çok küçük bir alana odaklanan yüksek enerjili elektronlarla yüzeyin taranması prensibiyle çalışır. Manfred von Ardenne öncülüğünde 1930'lı yıllarda geliştirilmiştir. En sık kullanıldığı biçimiyle, yüzeyden yayılan ikincil (secondary) elektronlarla yapılan ölçüm, özellikle yüzeyin engebeli (topografik) yapısıyla ilişkili bir görüntü oluşturur.
Dış Bağlantılar
- [1] SEM ile ilgili bilgiler (ingilizce).