Düşük enerjili elektron mikroskobu: Revizyonlar arasındaki fark

Etkileşimli olarak geçmişe göz at

[kontrol edilmemiş revizyon]

[kontrol edilmiş revizyon]

← Önceki sürümle aradaki fark Sonraki sürümle aradaki fark →

İçerik silindi İçerik eklendi

GörselVikimetin

Satır içi

Sayfanın 15.10, 25 Nisan 2015 tarihindeki hâli

Düşük enerjili elektron mikroskobu, veya LEEM (Low Energy Electron Microscope), maddelerin yüzeylerini mezoskopik boyutlarda incelemeye yarayan bir elektron mikroskobu çesididir. Elastik olarak yüzeyden geri saçılan düşük enerjili (0-500 elektronvolt) elektronların görüntülenmesi üzerine kuruludur. Yüzeylerin yapısal ve kimyasal özelliklerinin 10 nanometreye varan bir çözünürlükte incelenmesini sağlar. İnce filimler, katalitik yüzeyler, nanoteknolojik sistemler ile ilgili çalışmalardaki öneminin ötesinde, bu mikroskoptaki yüksek sinyal seviyeleri yüzeydeki dinamik değişimleri video hızında canlı olarak takip etmeye olanak tanır.

Düşük enerjili elektron mikroskobu fikir bazında 1962 yılında Ernst Bauer tarafından ortaya atılmıştır. Ernst Bauer diğer araştırmacıların da katkılarıyla icadını 1985'de pratiğe dökmüştür.

Düşük enerjili elektron mikroskobunun avantajlarından bir diğeri elektron optik sisteminin odak düzleminde oluşan düşük enerjili elektron kırınımı (LEED) motifinin kolaylıkla ölçülebilmesidir.

Kaynaklar

Bauer, Ernst (1994). "Low energy electron microscopy". Reports on Progress in Physics. Cilt 57. ss. 895-938.
Bauer, Ernst (1998). "LEEM basics" (PDF). Surface Review and Letters. Cilt 5. ss. 1275–1286.

Dış bağlantılar

LEEM Kullanıcılar Topluluğu (LEEM User Community) (İngilizce)

@@ 1. satır: / 1. satır: @@
 [[Dosya:LEEM_palladium_on_tungsten.jpg |200px|thumb| Yüksek sıcaklıkta (500°C) [[paladyum]] (Pd) atomik katmanının [[volfram]] (W) kristalinin (110) yüzünde büyürken alınan görüntüsü. [[paladyum|Pd]] koyu, [[volfram|W]] ise açık kontrast ile görünüyor. Daire şeklindeki görüntünün çapı 10 [[mikron]]dur. Zorlukla seçilebilen adacıklar ise [[volfram]] karbitleridir.]]
-'''Düşük enerjili elektron mikroskobu''', veya '''LEEM''' (Low Energy Electron Microscope), maddelerin yüzeylerini mezoskopik boyutlarda incelemeye yarayan bir elektron mikroskobu çesididir. Elastik olarak yüzeyden geri saçılan düşük enerjili (0-500 [[elektronvolt]]) [[elektron|elektronların]] görüntülenmesi üzerine kuruludur. Yüzeylerin yapısal ve kimyasal özelliklerinin 10 [[nanometre]]ye varan bir çözünürlükte incelenmesini sağlar. İnce filimler, [[katalizör|katalitik]] yüzeyler, [[nanoteknoloji]]k sistemler ile ilgili çalışmalardaki öneminin ötesinde, bu mikroskoptaki yüksek sinyal seviyeleri yüzeydeki dinamik degişimleri video hızında canlı olarak takip etmeye olanak tanır.
+'''Düşük enerjili elektron mikroskobu''', veya '''LEEM''' (Low Energy Electron Microscope), maddelerin yüzeylerini mezoskopik boyutlarda incelemeye yarayan bir elektron mikroskobu çesididir. Elastik olarak yüzeyden geri saçılan düşük enerjili (0-500 [[elektronvolt]]) [[elektron|elektronların]] görüntülenmesi üzerine kuruludur. Yüzeylerin yapısal ve kimyasal özelliklerinin 10 [[nanometre]]ye varan bir çözünürlükte incelenmesini sağlar. İnce filimler, [[katalizör|katalitik]] yüzeyler, [[nanoteknoloji]]k sistemler ile ilgili çalışmalardaki öneminin ötesinde, bu mikroskoptaki yüksek sinyal seviyeleri yüzeydeki dinamik değişimleri video hızında canlı olarak takip etmeye olanak tanır.
 Düşük enerjili elektron mikroskobu fikir bazında 1962 yılında [[Ernst Bauer]] tarafından ortaya atılmıştır. Ernst Bauer diğer araştırmacıların da katkılarıyla icadını 1985'de pratiğe dökmüştür.
@@ 8. satır: / 8. satır: @@
 == Kaynaklar ==
-* {{Dergi kaynağı| last = Bauer | first = Ernst | title = Low energy electron microscopy | journal = Reports on Progress in Physics | volume = 57 | pages = 895-938 | date = 1994 }}
+* {{Dergi kaynağı|last = Bauer | first = Ernst | title = Low energy electron microscopy | journal = Reports on Progress in Physics | volume = 57 | pages = 895-938 | date = 1994 }}
 * {{Dergi kaynağı| last = Bauer | first = Ernst | title = LEEM basics | journal = Surface Review and Letters | volume = 5 | pages = 1275–1286 | date = 1998 | url = http://phy.asu.edu/homepages/bauer/LEEM%20basics.pdf}}