X ışını floresansı

Vikipedi, özgür ansiklopedi
Gezinti kısmına atla Arama kısmına atla
Bir Philips PW1606 X ışını floresansı spektrometresi.

X ışını floresansı, yüksek enerjili X ışınları ya da gama ışınları bombardımanına uğratılarak uyarılan bir malzemeden karakteristik "ikincil" (ya da floresansal) X ışınlarının yayılmasıdır. Bu olay element analizi ile kimyasal analizde, özellikle de metal, cam, seramik ve inşaat malzemelerinin incelenmesi ile jeokimya, adli tıp, arkeoloji ve sanat eserlerinin[1] incelenmesinde kullanılmaktadır.

Kaynakça[değiştir | kaynağı değiştir]

  1. ^ De Viguerie, L.; Sole, V. A.; Walter, P. (Aralık 2009). "Multilayers quantitative X-ray fluorescence analysis applied to easel paintings". Anal Bioanal Chem (İngilizce). 7 (395). doi:10.1007/s00216-009-2997-0. 

Konuyla ilgili yayınlar[değiştir | kaynağı değiştir]