Scan chain

Vikipedi, özgür ansiklopedi
Şuraya atla: kullan, ara

Scan chain ya da Tarama zinciri , IC dizaynı için bir test dizaynı tekniğidir. Buradaki amaç IC içerisindeki her flip-flop davraşını test etmeyi kolaylaştırmaktır.

Bu teknik basitçe şu şekilde izah edilebilir. Test, testi başlatmak için, dışarıdan girilen scan enable sinyali ile başlatılır. Bu sinyal girildiğinde IC içerisindeki test edilmesi amaçlanan tüm flip-flop'lar uzun bir shift register'a bağlanır. IC'nin clck sinyali ve keyfi bir data kullanılarak flip-flopların çıkışı okunur ve gerekli karşılaştırma yapılır. Eğer çıkan sonuç beklenen sonuç ile aynı ise üretimde bir hatanın olmadığı kanısına varılır.