Scan chain

Vikipedi, özgür ansiklopedi
Atla: kullan, ara

Scan chain ya da Tarama zinciri , IC dizayni icin bir test dizayni teknigidir.Buradaki amac IC icerisindeki her flip-flop davrasini test etmeyi kolaylastirmaktir.

Bu teknik basitce su sekilde izah edilebilir. Test,testi baslatmak icin, disaridan girilen scan enable sinyali ile baslatilir. Bu sinyal girildiginde IC icerisindeki test edilmesi amaclanan tum flip-flop'lar uzun bir shift register'a baglanir.IC'nin clck sinyali ve keyfi bir data kullanilarak flip-flop larin cikisi okunur ve gerekli karsilastirma yapilir. Eger cikan sonuc beklenen sonuc ile ayni ise uretimde bir hatanin olmadigi kanisina varilir.